Введение Анализ отказов (Failure Analysis, FA) — систематический процесс выявления причин деградации или выхода из строя электронных компонентов. Его цели: Ключевые этапы FA: В статье рассмо...
Введение Метрологическое обеспечение испытаний — комплекс мероприятий, гарантирующих точность, воспроизводимость и достоверность измерительной информации при тестировании продукции и процесс...
Введение EMI (Electromagnetic Interference) — электромагнитные помехи, которые могут нарушать работу электронных устройств. Различают: Измерения EMI необходимы для: В статье рассмотрены: 1. ...
Введение В условиях современной электромагнитной среды технические средства (ТС) подвергаются воздействию множества помех: Стандарты серии IEC 61000‑4 регламентируют методы испытаний на устойчиво...
Введение Температурные камеры (климатические камеры, камеры тепла‑холода) — ключевое оборудование для испытаний электроники, материалов, компонентов и готовых изделий в контролируемых темпер...